动力電(diàn)池系(xì)統的(de)測試可(kě)以劃(huà)分(fēn)为两(liǎng)个(gè)部(bù)分(fēn)：電(diàn)池包(bāo)本(běn)體(tǐ)測試、電(diàn)池管(guǎn)理(lǐ)系(xì)統測試。

　　一(yī)、電(diàn)池包(bāo)本(běn)體(tǐ)測試

　　電(diàn)池包(bāo)本(běn)體(tǐ)測試一(yī)般在(zài)設計(jì)验(yàn)證階(jiē)段(duàn)進(jìn)行，目的(de)是(shì)为了验(yàn)證電(diàn)池包(bāo)的(de)設計(jì)/生(shēng)産是(shì)否符合設計(jì)要(yào)求。其(qí)中(zhōng)包(bāo)含温(wēn)度測試、機(jī)械測試、外部(bù)环(huán)境模拟測試、低(dī)壓電(diàn)气(qì)測試、電(diàn)磁兼容測試、電(diàn)气(qì)安(ān)全(quán)測試、電(diàn)池性(xìng)能(néng)測試、濫用(yòng)試验(yàn)測試等等。

　　这(zhè)里(lǐ)面(miàn)的(de)試验(yàn)衆多(duō)繁雜，在(zài)这(zhè)里(lǐ)主(zhǔ)要(yào)介紹影響電(diàn)池使用(yòng)安(ān)全(quán)的(de)電(diàn)池包(bāo)濫用(yòng)試验(yàn)。

　　1、針(zhēn)刺測試

　　模拟電(diàn)池遭到(dào)尖銳物(wù)體(tǐ)刺穿时(shí)的(de)场(chǎng)景，因为异(yì)物(wù)刺入可(kě)能(néng)導致(zhì)電(diàn)池內(nèi)部(bù)短路(lù)，試验(yàn)要(yào)求不(bù)起(qǐ)火(huǒ)不(bù)爆炸

　　2、盐(yán)水(shuǐ)浸泡

　　5%盐(yán)水(shuǐ)长时(shí)間(jiān)浸沒(méi)測試，電(diàn)池功能(néng)正(zhèng)常

　　目前(qián)，新(xīn)能(néng)源電(diàn)池包(bāo)防水(shuǐ)防塵(chén)等級推薦是(shì)IP67。汽車的(de)使用(yòng)环(huán)境惡劣，需要(yào)增強(qiáng)IP防護

　　3、外部(bù)火(huǒ)燒

　　590℃火(huǒ)燒持(chí)續130s，電(diàn)池無爆炸、起(qǐ)火(huǒ)、燃燒並(bìng)且(qiě)無火(huǒ)苗(miáo)殘留

　　4、跌落

　　電(diàn)池在(zài)1m高(gāo)度下自(zì)由(yóu)落體(tǐ)在(zài)鋼(gāng)闆上(shàng)，電(diàn)池殼(ké)體(tǐ)完整，功能(néng)正(zhèng)常

　　5、振动測試

　　高(gāo)頻振动模拟測試，要(yào)求電(diàn)池包(bāo)功能(néng)正(zhèng)常。

　　二(èr)、電(diàn)池管(guǎn)理(lǐ)系(xì)統測試

　　電(diàn)池管(guǎn)理(lǐ)系(xì)統的(de)測試一(yī)般为软(ruǎn)件(jiàn)測試，在(zài)软(ruǎn)件(jiàn)功能(néng)開(kāi)發(fà)过程中(zhōng)進(jìn)行。與(yǔ)新(xīn)興車企尚未量(liàng)産的(de)自(zì)动駕駛系(xì)統偏向(xiàng)于(yú)使用(yòng)C語(yǔ)言而(ér)實(shí)現(xiàn)软(ruǎn)件(jiàn)設計(jì)不(bù)同，現(xiàn)今成(chéng)熟的(de)車企在(zài)進(jìn)行電(diàn)动車控制系(xì)統開(kāi)發(fà)时(shí)，软(ruǎn)件(jiàn)一(yī)般采用(yòng)以模型为基础的(de)MBD開(kāi)發(fà)。MBD開(kāi)發(fà)的(de)優點(diǎn)是(shì)能(néng)够以图(tú)形化(huà)的(de)方(fāng)式表(biǎo)达(dá)複雜的(de)邏輯、代(dài)碼可(kě)读性(xìng)、可(kě)移植性(xìng)、開(kāi)發(fà)調試便利性(xìng)等，同时(shí)可(kě)以利用(yòng)成(chéng)熟的(de)代(dài)碼生(shēng)成(chéng)工具鍊(liàn)，避免了手(shǒu)工代(dài)碼容易産生(shēng)的(de)低(dī)級錯誤。比如(rú)MIL、SIL、HIL等多(duō)項測試：

　　1、MIL(model in loops)模型在(zài)环(huán)測試，就(jiù)是(shì)验(yàn)證软(ruǎn)件(jiàn)模型是(shì)否可(kě)以實(shí)現(xiàn)软(ruǎn)件(jiàn)功能(néng)，測試依據(jù)是(shì)由(yóu)系(xì)統需求分(fēn)解(jiě)而(ér)来(lái)的(de)软(ruǎn)件(jiàn)需求

　　2、SIL(software in loops)软(ruǎn)件(jiàn)在(zài)环(huán)測試，对(duì)比模型自(zì)动生(shēng)成(chéng)的(de)C代(dài)碼和(hé)模型本(běn)身實(shí)現(xiàn)的(de)功能(néng)是(shì)否一(yī)致(zhì)，使用(yòng)simulink自(zì)身工具就(jiù)可(kě)以進(jìn)行。

　　3、PIL(processer in loops)處(chù)理(lǐ)器在(zài)环(huán)測試，目的(de)是(shì)測試自(zì)动生(shēng)成(chéng)的(de)代(dài)碼写(xiě)入控制器後(hòu)，功能(néng)實(shí)現(xiàn)上(shàng)是(shì)否與(yǔ)模型有偏差。PIL看(kàn)似無關(guān)緊要(yào)，但不(bù)重視会(huì)引起(qǐ)如(rú)調度问題(tí)、CPU load、堆(duī)棧溢出(chū)。

　　4、HIL(hardware in loops)硬(yìng)件(jiàn)在(zài)环(huán)測試，測試控制器完整系(xì)統功能(néng)，一(yī)般会(huì)搭建控制器所(suǒ)在(zài)系(xì)統的(de)測試台(tái)架，使用(yòng)電(diàn)气(qì)元(yuán)件(jiàn)模拟傳感(gǎn)器(如(rú)温(wēn)度)和(hé)執行器(如(rú)風(fēng)扇(shàn)負载(zài))的(de)電(diàn)气(qì)特性(xìng)，验(yàn)證完整的(de)系(xì)統功能(néng)。

　　三(sān)、整車試验(yàn)中(zhōng)電(diàn)池測試

　　1、低(dī)温(wēn)耐久測試.

　　主(zhǔ)要(yào)測試冷(lěng)啟动性(xìng)能(néng)，一(yī)般在(zài)黑(hēi)河(hé)等地(dì)進(jìn)行，電(diàn)池包(bāo)的(de)低(dī)温(wēn)充放(fàng)電(diàn)能(néng)力、低(dī)温(wēn)保護策略、電(diàn)池包(bāo)加热(rè)功能(néng)等在(zài)該項測試中(zhōng)進(jìn)行考核。

　　2、高(gāo)温(wēn)耐久測試。

　　一(yī)般在(zài)格尔木盆(pén)地(dì)等進(jìn)行，主(zhǔ)要(yào)測試電(diàn)池包(bāo)在(zài)高(gāo)温(wēn)下充放(fàng)電(diàn)能(néng)力、電(diàn)池包(bāo)冷(lěng)卻功能(néng)和(hé)过热(rè)保護策略。

　　3、高(gāo)温(wēn)+高(gāo)湿(shī)耐久測試。一(yī)般在(zài)海(hǎi)南(nán)等地(dì)進(jìn)行，海(hǎi)水(shuǐ)环(huán)境会(huì)加劇零(líng)部(bù)件(jiàn)腐蝕，也(yě)考验(yàn)電(diàn)池包(bāo)的(de)性(xìng)能(néng)