微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)集電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ)于(yú)一(yī)體(tǐ)的(de)電(diàn)化(huà)學(xué)通(tòng)用(yòng)儀器。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)能(néng)完成(chéng)線(xiàn)性(xìng)伏安(ān)、循环(huán)伏安(ān)、階(jiē)梯(tī)伏安(ān)、脉沖伏安(ān)、方(fāng)波(bō)伏安(ān)等電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ);還(huán)可(kě)以完成(chéng)恒電(diàn)位(wèi)极(jí)化(huà)、恒電(diàn)流极(jí)化(huà)，電(diàn)位(wèi)、電(diàn)流、電(diàn)量(liàng)階(jiē)躍和(hé)塔菲尔图(tú)、交流阻抗等多(duō)項電(diàn)化(huà)學(xué)測試功能(néng)。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)在(zài)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站的(de)基础上(shàng)加大(dà)输出(chū)電(diàn)流，提(tí)高(gāo)掃描速度，提(tí)高(gāo)電(diàn)位(wèi)、電(diàn)流分(fēn)辨率，在(zài)電(diàn)化(huà)學(xué)測試方(fāng)法(fǎ)上(shàng)增加了脉沖電(diàn)鍍方(fāng)法(fǎ)、多(duō)種(zhǒng)交流測試方(fāng)法(fǎ)而(ér)成(chéng)。

　　微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)一(yī)个(gè)精密的(de)掃描微電(diàn)极(jí)系(xì)統，具有极(jí)高(gāo)空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)有很多(duō)潛在(zài)的(de)应用(yòng)，微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)目前(qián)主(zhǔ)要(yào)用(yòng)于(yú)電(diàn)沉積和(hé)腐蝕科學(xué)中(zhōng)的(de)表(biǎo)面(miàn)反(fǎn)应过程基础研究、酶穩定(dìng)性(xìng)研究、生(shēng)物(wù)大(dà)分(fēn)子的(de)電(diàn)化(huà)學(xué)反(fǎn)应特性(xìng)以及(jí)微機(jī)電(diàn)系(xì)統等领域。

　　微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)數據(jù)采集與(yǔ)數據(jù)處(chù)理(lǐ)的(de)软(ruǎn)件(jiàn)是(shì)基于(yú)Windows2000/XP及(jí)以上(shàng)版本(běn)操作系(xì)統的(de)软(ruǎn)件(jiàn)，用(yòng)戶界面(miàn)遵守Windows软(ruǎn)件(jiàn)的(de)設計(jì)規則，容易安(ān)裝(zhuāng)和(hé)使用(yòng)。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)系(xì)統软(ruǎn)件(jiàn)为方(fāng)便使用(yòng)者(zhě)提(tí)供了強(qiáng)大(dà)的(de)功能(néng)，包(bāo)括文(wén)件(jiàn)管(guǎn)理(lǐ)，全(quán)面(miàn)的(de)實(shí)验(yàn)控制，靈活的(de)图(tú)形顯示，方(fāng)便的(de)图(tú)形放(fàng)大(dà)、縮小和(hé)還(huán)原，位(wèi)图(tú)图(tú)形和(hé)數據(jù)的(de)導出(chū)，多(duō)種(zhǒng)數據(jù)處(chù)理(lǐ)功能(néng)。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)系(xì)統软(ruǎn)件(jiàn)具有良好的(de)用(yòng)戶界面(miàn)，全(quán)中(zhōng)文(wén)菜单，方(fāng)便的(de)峰識别和(hé)疊加，更(gèng)为方(fāng)便地(dì)为教學(xué)和(hé)科研服務(wù)。

　　微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)一(yī)个(gè)建立在(zài)電(diàn)化(huà)學(xué)掃描探針(zhēn)的(de)設計(jì)基础上(shàng)的(de)，進(jìn)行超高(gāo)測量(liàng)分(fēn)辨率及(jí)空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率的(de)非接觸式微區(qū)形貌及(jí)電(diàn)化(huà)學(xué)微區(qū)測試系(xì)統。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)提(tí)供給(gěi)電(diàn)化(huà)學(xué)及(jí)材料測試以极(jí)高(gāo)空(kōng)間(jiān)分(fēn)辨率的(de)一(yī)个(gè)測試平台(tái)。每个(gè)都具有高(gāo)分(fēn)辨率，长工作距離的(de)閉环(huán)定(dìng)位(wèi)系(xì)統並(bìng)安(ān)裝(zhuāng)于(yú)抗震光(guāng)學(xué)平台(tái)上(shàng)。不(bù)同的(de)輔助選件(jiàn)都安(ān)裝(zhuāng)于(yú)定(dìng)位(wèi)系(xì)統上(shàng)，輔助選件(jiàn)包(bāo)括，如(rú)電(diàn)位(wèi)計(jì)，为不(bù)同掃描探針(zhēn)試验(yàn)，定(dìng)位(wèi)系(xì)統提(tí)供不(bù)同的(de)功能(néng)。

　　微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)是(shì)一(yī)个(gè)模块(kuài)化(huà)配置的(de)系(xì)統，可(kě)以實(shí)現(xiàn)微區(qū)掃描探針(zhēn)電(diàn)化(huà)學(xué)技術(shù)以及(jí)激光(guāng)非接觸式微區(qū)形貌測試，微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)安(ān)裝(zhuāng)位(wèi)置與(yǔ)樣(yàng)品非常接近(jìn)，但是(shì)不(bù)接觸到(dào)樣(yàng)品。随着探針(zhēn)測試的(de)進(jìn)行，改變(biàn)探針(zhēn)的(de)空(kōng)間(jiān)位(wèi)置。然後(hòu)将所(suǒ)記(jì)录(lù)的(de)數據(jù)对(duì)探針(zhēn)位(wèi)置作图(tú)，微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)針(zhēn)对(duì)不(bù)同技術(shù)，該图(tú)可(kě)以呈現(xiàn)微區(qū)電(diàn)化(huà)學(xué)電(diàn)流，阻抗，相对(duì)功函(hán)或(huò)者(zhě)是(shì)表(biǎo)面(miàn)形貌图(tú)。

　　微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)采用(yòng)全(quán)浮地(dì)式設計(jì)，具有出(chū)色(sè)的(de)穩定(dìng)性(xìng)和(hé)精确度，先(xiān)進(jìn)的(de)硬(yìng)件(jiàn)和(hé)功能(néng)完善的(de)软(ruǎn)件(jiàn)，为涉及(jí)能(néng)源、材料、生(shēng)命科學(xué)、环(huán)保等领域的(de)科技工作者(zhě)提(tí)供了優秀的(de)科研平台(tái)。微區(qū)掃描電(diàn)化(huà)學(xué)的(de)具體(tǐ)应用(yòng)有：

　　(1)電(diàn)合成(chéng)、電(diàn)沉積(電(diàn)鍍)、陽极(jí)氧化(huà)、電(diàn)解(jiě)等反(fǎn)应機(jī)理(lǐ)研究;

　　(2)電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析研究，包(bāo)括：氧還(huán)原研究(ORR)、氧析出(chū)研究(OER)、氫析出(chū)(HER)、CO2還(huán)原等;

　　(3)金(jīn)屬材料的(de)腐蝕行为研究與(yǔ)耐蝕性(xìng)評价;

　　(4)能(néng)源材料(锂離子電(diàn)池、太陽能(néng)電(diàn)池、燃料动力電(diàn)池和(hé)超級電(diàn)容器等)、先(xiān)進(jìn)功能(néng)材料以及(jí)傳感(gǎn)器的(de)性(xìng)能(néng)研究;

　　(5)緩蝕劑、水(shuǐ)質(zhì)穩定(dìng)劑、塗层(céng)以及(jí)陰极(jí)保護效率的(de)快(kuài)速評价。