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深度解(jiě)读電(diàn)化(huà)學(xué)站
信(xìn)息来(lái)源:武漢格瑞斯新(xīn)能(néng)源科技有限公(gōng)司 發(fà)布(bù)时(shí)間(jiān):2019-09-27 16:13 浏覽次(cì)數:次(cì)

  
      電(diàn)化(huà)學(xué)工作站是(shì)電(diàn)化(huà)學(xué)測量(liàng)系(xì)統的(de)简稱,是(shì)電(diàn)化(huà)學(xué)研究和(hé)教學(xué)常用(yòng)的(de)測量(liàng)設备。将这(zhè)種(zhǒng)測量(liàng)系(xì)統組成(chéng)一(yī)台(tái)整機(jī),內(nèi)含快(kuài)速數字(zì)信(xìn)号(hào)發(fà)生(shēng)器、高(gāo)速數據(jù)采集系(xì)統、電(diàn)位(wèi)電(diàn)流信(xìn)号(hào)滤波(bō)器、多(duō)級信(xìn)号(hào)增益、IR降補償電(diàn)路(lù)以及(jí)恒電(diàn)位(wèi)儀、恒電(diàn)流儀。可(kě)直(zhí)接用(yòng)于(yú)超微電(diàn)极(jí)上(shàng)的(de)穩态電(diàn)流測量(liàng)。如(rú)果與(yǔ)微電(diàn)流放(fàng)大(dà)器及(jí)屏蔽箱(xiāng)連(lián)接,可(kě)測量(liàng)1pA或(huò)更(gèng)低(dī)的(de)電(diàn)流。如(rú)果與(yǔ)大(dà)電(diàn)流放(fàng)大(dà)器連(lián)接,電(diàn)流范圍可(kě)拓宽(kuān)为±2A。某些實(shí)验(yàn)方(fāng)法(fǎ)的(de)时(shí)間(jiān)尺(chǐ)度的(de)數量(liàng)級可(kě)达(dá)l0倍,动态范圍极(jí)为宽(kuān)廣。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站可(kě)進(jìn)行循环(huán)伏安(ān)法(fǎ)、交流阻抗法(fǎ)、交流伏安(ān)法(fǎ)等測量(liàng)。工作站可(kě)以同时(shí)進(jìn)行四(sì)電(diàn)极(jí)的(de)工作方(fāng)式。四(sì)電(diàn)极(jí)可(kě)用(yòng)于(yú)液/液界面(miàn)電(diàn)化(huà)學(xué)測量(liàng),对(duì)于(yú)大(dà)電(diàn)流或(huò)低(dī)阻抗電(diàn)解(jiě)池(例如(rú)電(diàn)池)也(yě)十分(fēn)重要(yào),電(diàn)化(huà)學(xué)工作站可(kě)消除由(yóu)于(yú)電(diàn)缆(lǎn)和(hé)接觸電(diàn)阻引起(qǐ)的(de)測量(liàng)誤差。儀器還(huán)有外部(bù)信(xìn)号(hào)输入通(tòng)道(dào),可(kě)在(zài)記(jì)录(lù)電(diàn)化(huà)學(xué)信(xìn)号(hào)的(de)同时(shí)記(jì)录(lù)外部(bù)输入的(de)電(diàn)壓信(xìn)号(hào),例如(rú)光(guāng)譜信(xìn)号(hào)等。这(zhè)对(duì)光(guāng)譜電(diàn)化(huà)學(xué)等實(shí)验(yàn)极(jí)为方(fāng)便。

  電(diàn)化(huà)學(xué)工作站儀器內(nèi)含快(kuài)速數字(zì)信(xìn)号(hào)發(fà)生(shēng)器,用(yòng)于(yú)高(gāo)頻交流阻抗測量(liàng)的(de)直(zhí)接數字(zì)信(xìn)号(hào)合成(chéng)器,双(shuāng)通(tòng)道(dào)高(gāo)速數據(jù)采集系(xì)統,電(diàn)位(wèi)電(diàn)流信(xìn)号(hào)滤波(bō)器,多(duō)級信(xìn)号(hào)增益,iR降補償電(diàn)路(lù),以及(jí)恒電(diàn)位(wèi)儀/恒電(diàn)流儀(660E)。電(diàn)位(wèi)范圍为±10V,電(diàn)流范圍为±250mA。電(diàn)流測量(liàng)下限低(dī)于(yú)10pA。可(kě)直(zhí)接用(yòng)于(yú)超微電(diàn)极(jí)上(shàng)的(de)穩态電(diàn)流測量(liàng)。如(rú)果與(yǔ)CHI200B微電(diàn)流放(fàng)大(dà)器及(jí)屏蔽箱(xiāng)連(lián)接,可(kě)測量(liàng)1pA或(huò)更(gèng)低(dī)的(de)電(diàn)流。如(rú)果與(yǔ)CHI680C大(dà)電(diàn)流放(fàng)大(dà)器連(lián)接,電(diàn)流范圍可(kě)拓宽(kuān)为±2A。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站也(yě)是(shì)十分(fēn)快(kuài)速的(de)儀器。信(xìn)号(hào)發(fà)生(shēng)器的(de)更(gèng)新(xīn)速率为10MHz,數據(jù)采集采用(yòng)两(liǎng)个(gè)同步16位(wèi)高(gāo)分(fēn)辨低(dī)噪聲的(de)模數转換器,双(shuāng)通(tòng)道(dào)同时(shí)采樣(yàng)的(de)最(zuì)高(gāo)速率为1MHz。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站双(shuāng)通(tòng)道(dào)同步電(diàn)流電(diàn)位(wèi)采樣(yàng)可(kě)加快(kuài)阻抗測量(liàng)的(de)速度。某些實(shí)验(yàn)方(fāng)法(fǎ)的(de)时(shí)間(jiān)尺(chǐ)度可(kě)达(dá)十个(gè)數量(liàng)級,动态范圍极(jí)为宽(kuān)廣。循环(huán)伏安(ān)法(fǎ)的(de)掃描速度为1000V/s时(shí),電(diàn)位(wèi)增量(liàng)僅0.1mV,當掃描速度为5000V/s时(shí),電(diàn)位(wèi)增量(liàng)为1mV。又如(rú)交流阻抗的(de)測量(liàng)頻率可(kě)达(dá)1MHz,交流伏安(ān)法(fǎ)的(de)頻率可(kě)达(dá)10KHz。儀器可(kě)工作于(yú)二(èr),三(sān),或(huò)四(sì)電(diàn)极(jí)的(de)方(fāng)式。四(sì)電(diàn)极(jí)可(kě)用(yòng)于(yú)液/液界面(miàn)電(diàn)化(huà)學(xué)測量(liàng),对(duì)于(yú)大(dà)電(diàn)流或(huò)低(dī)阻抗電(diàn)解(jiě)池(例如(rú)電(diàn)池)也(yě)十分(fēn)重要(yào),可(kě)消除由(yóu)于(yú)電(diàn)缆(lǎn)和(hé)接觸電(diàn)阻引起(qǐ)的(de)測量(liàng)誤差。儀器還(huán)有外部(bù)信(xìn)号(hào)输入通(tòng)道(dào),同步16位(wèi)高(gāo)分(fēn)辨采樣(yàng)的(de)最(zuì)高(gāo)速率为1MHz。可(kě)在(zài)記(jì)录(lù)電(diàn)化(huà)學(xué)信(xìn)号(hào)的(de)同时(shí)記(jì)录(lù)外部(bù)输入的(de)電(diàn)壓信(xìn)号(hào),例如(rú)光(guāng)譜信(xìn)号(hào)等。这(zhè)对(duì)光(guāng)譜電(diàn)化(huà)學(xué)等實(shí)验(yàn)极(jí)为方(fāng)便。

  電(diàn)化(huà)學(xué)工作站是(shì)集電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ)于(yú)循环(huán)伏安(ān)、階(jiē)梯(tī)伏安(ān)、脉沖伏安(ān)、方(fāng)波(bō)伏安(ān)等電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ);還(huán)可(kě)以完成(chéng)恒電(diàn)位(wèi)极(jí)化(huà)、恒電(diàn)流极(jí)化(huà),電(diàn)位(wèi)、電(diàn)流、電(diàn)量(liàng)階(jiē)躍和(hé)塔菲尔图(tú)、交流阻抗等六(liù)十多(duō)種(zhǒng)電(diàn)化(huà)學(xué)測試功能(néng),RST5200F電(diàn)化(huà)學(xué)工作站是(shì)在(zài)RST3100電(diàn)化(huà)學(xué)工作站的(de)基础上(shàng)增加交流阻抗等交流方(fāng)法(fǎ)加大(dà)输出(chū)電(diàn)流,提(tí)高(gāo)掃描速度,提(tí)高(gāo)電(diàn)位(wèi)、電(diàn)流分(fēn)辨率,在(zài)電(diàn)化(huà)學(xué)測試方(fāng)法(fǎ)上(shàng)增加了脉沖電(diàn)鍍方(fāng)法(fǎ)、電(diàn)池充放(fàng)電(diàn)等多(duō)種(zhǒng)交流測試方(fāng)法(fǎ)而(ér)成(chéng)。RST5200F電(diàn)化(huà)學(xué)工作站數據(jù)采集與(yǔ)數據(jù)處(chù)理(lǐ)的(de)软(ruǎn)件(jiàn)是(shì)基于(yú)Windows2000/XP及(jí)以上(shàng)版本(běn)操作系(xì)統的(de)软(ruǎn)件(jiàn),用(yòng)戶界面(miàn)遵守Windows软(ruǎn)件(jiàn)的(de)設計(jì)規則,容易安(ān)裝(zhuāng)和(hé)使用(yòng)。系(xì)統软(ruǎn)件(jiàn)为方(fāng)便使用(yòng)者(zhě)提(tí)供了強(qiáng)大(dà)的(de)功能(néng),包(bāo)括文(wén)件(jiàn)管(guǎn)理(lǐ),全(quán)面(miàn)的(de)實(shí)验(yàn)控制,靈活的(de)图(tú)形顯示,方(fāng)便的(de)图(tú)形放(fàng)大(dà)、縮小和(hé)還(huán)原,位(wèi)图(tú)图(tú)形和(hé)數據(jù)的(de)導出(chū),多(duō)種(zhǒng)數據(jù)處(chù)理(lǐ)功能(néng)。系(xì)統软(ruǎn)件(jiàn)具有良好的(de)用(yòng)戶界面(miàn),全(quán)中(zhōng)文(wén)菜单,方(fāng)便的(de)峰識别和(hé)疊加,更(gèng)为方(fāng)便地(dì)为教學(xué)和(hé)科研服務(wù)。

  電(diàn)化(huà)學(xué)工作站全(quán)部(bù)由(yóu)高(gāo)品質(zhì)CMOS和(hé)BiFET集成(chéng)電(diàn)路(lù)組成(chéng),主(zhǔ)要(yào)器件(jiàn)全(quán)部(bù)采用(yòng)進(jìn)口(kǒu)優質(zhì)品。PCB采用(yòng)當代(dài)EDA設計(jì)規范及(jí)工藝。采用(yòng)數控低(dī)量(liàng)化(huà)噪聲掃描方(fāng)式,有效地(dì)降低(dī)了因掃描發(fà)生(shēng)器所(suǒ)産生(shēng)的(de)階(jiē)梯(tī)波(bō)的(de)量(liàng)化(huà)噪聲及(jí)差分(fēn)噪聲。具有控制精度高(gāo)、響应速度快(kuài)、性(xìng)能(néng)穩定(dìng)、結構緊湊、自(zì)动化(huà)程度高(gāo)的(de)特點(diǎn),該儀器可(kě)完全(quán)由(yóu)微機(jī)控制来(lái)進(jìn)行電(diàn)化(huà)學(xué)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ)測量(liàng),因此(cǐ)适用(yòng)于(yú)高(gāo)校(xiào)科研與(yǔ)教學(xué)實(shí)验(yàn)使用(yòng)。

  软(ruǎn)件(jiàn)能(néng)實(shí)現(xiàn)图(tú)形和(hé)數據(jù)同步顯示。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站系(xì)統可(kě)对(duì)測試曲(qū)線(xiàn)進(jìn)行數字(zì)平滑、微分(fēn)和(hé)積分(fēn),能(néng)对(duì)极(jí)化(huà)曲(qū)線(xiàn)進(jìn)行疊加、放(fàng)大(dà)和(hé)縮小,並(bìng)对(duì)其(qí)進(jìn)行電(diàn)化(huà)學(xué)參數解(jiě)析,設备安(ān)裝(zhuāng)简单,即插即用(yòng)。用(yòng)戶可(kě)以使用(yòng)笔(bǐ)記(jì)本(běn)電(diàn)腦或(huò)台(tái)式機(jī)控制。全(quán)中(zhōng)文(wén)視窗(chuāng)软(ruǎn)件(jiàn),界面(miàn)友好、易學(xué)易用(yòng)符合中(zhōng)国電(diàn)化(huà)學(xué)工作者(zhě)的(de)使用(yòng)習慣。

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