電(diàn)化(huà)學(xué)工作站是(shì)由(yóu)高(gāo)速MCU、高(gāo)精度FET集成(chéng)電(diàn)路(lù)組成(chéng)，內(nèi)置DDS數字(zì)信(xìn)号(hào)合成(chéng)器、高(gāo)功率恒電(diàn)位(wèi)/恒電(diàn)流儀、双(shuāng)通(tòng)道(dào)相關(guān)分(fēn)析器和(hé)双(shuāng)通(tòng)道(dào)高(gāo)速16bit/高(gāo)精度24bitAD转換器。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站能(néng)完成(chéng)線(xiàn)性(xìng)掃描循环(huán)伏安(ān)(CV)、階(jiē)梯(tī)波(bō)循环(huán)伏安(ān)(SCV)、方(fāng)波(bō)循环(huán)伏安(ān)(SWV)、差分(fēn)脉沖伏安(ān)(DPV)和(hé)常規脉沖伏安(ān)(NPV)以及(jí)差分(fēn)常規脉沖伏安(ān)(DNPV)等電(diàn)分(fēn)析方(fāng)法(fǎ);電(diàn)化(huà)學(xué)工作站還(huán)可(kě)以完成(chéng)恒電(diàn)流(位(wèi))极(jí)化(huà)、动電(diàn)位(wèi)(流)掃描、任意(yì)恒電(diàn)流(位(wèi))方(fāng)波(bō)，多(duō)恒電(diàn)流(位(wèi))階(jiē)躍、零(líng)電(diàn)阻模式電(diàn)化(huà)學(xué)噪聲(電(diàn)偶電(diàn)流)、電(diàn)化(huà)學(xué)阻抗(EIS)等電(diàn)化(huà)學(xué)測試等功能(néng)。

　　電(diàn)化(huà)學(xué)工作站通(tòng)常存放(fàng)于(yú)干(gàn)燥、清(qīng)潔、空(kōng)气(qì)中(zhōng)不(bù)含有腐蝕性(xìng)气(qì)體(tǐ)的(de)环(huán)境中(zhōng)。在(zài)使用(yòng)时(shí)，計(jì)算機(jī)以及(jí)工作站電(diàn)源都必須良好接地(dì)。發(fà)生(shēng)故障或(huò)出(chū)現(xiàn)异(yì)常現(xiàn)象(xiàng)，可(kě)用(yòng)随機(jī)提(tí)供模拟電(diàn)解(jiě)池对(duì)儀器性(xìng)能(néng)進(jìn)行单独檢验(yàn)。電(diàn)化(huà)學(xué)工作站的(de)檢验(yàn)步驟如(rú)下：

　　1、打(dǎ)開(kāi)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站電(diàn)源;

　　2、将三(sān)个(gè)電(diàn)极(jí)夾中(zhōng)綠(lǜ)色(sè)護套(tào)夾(工作電(diàn)极(jí))夾在(zài)模拟電(diàn)解(jiě)池的(de)右(yòu)端(WE)，黃色(sè)護套(tào)夾(參比電(diàn)极(jí))夾在(zài)中(zhōng)間(jiān)(RE)，紅(hóng)色(sè)護套(tào)夾(輔助電(diàn)极(jí))則連(lián)接到(dào)左(zuǒ)端(CE)。根(gēn)據(jù)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站的(de)基本(běn)特性(xìng)，在(zài)改變(biàn)給(gěi)定(dìng)電(diàn)位(wèi)时(shí)，參比应始(shǐ)終(zhōng)等于(yú)給(gěi)定(dìng)，输出(chū)電(diàn)流則服從歐姆定(dìng)律I=參比(給(gěi)定(dìng))電(diàn)位(wèi)/R。如(rú)顯示數值基本(běn)相符(電(diàn)阻與(yǔ)電(diàn)表(biǎo)均有一(yī)定(dìng)允許誤差)说(shuō)明(míng)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站各(gè)項性(xìng)能(néng)正(zhèng)常。可(kě)再進(jìn)一(yī)步檢查電(diàn)解(jiě)池系(xì)統和(hé)插头(tóu)連(lián)線(xiàn)等是(shì)否良好，如(rú)读數完全(quán)不(bù)对(duì)(插头(tóu)接觸良好)，則是(shì)屬儀器損壞，生(shēng)産方(fāng)維修;

　　3、啟动corrtest软(ruǎn)件(jiàn)，用(yòng)动電(diàn)位(wèi)掃描方(fāng)法(fǎ)，施加電(diàn)位(wèi)區(qū)間(jiān)为0~1V，每一(yī)个(gè)數據(jù)點(diǎn)应遵循歐姆定(dìng)律即E=IR;否則計(jì)算機(jī)與(yǔ)電(diàn)化(huà)學(xué)工作站的(de)通(tòng)訊接口(kǒu)可(kě)能(néng)存在(zài)接觸不(bù)良;

　　4、若模拟電(diàn)解(jiě)池實(shí)验(yàn)結果是(shì)否正(zhèng)确，檢查電(diàn)化(huà)學(xué)工作站實(shí)際體(tǐ)系(xì)，包(bāo)括以下幾(jǐ)个(gè)方(fāng)面(miàn)：實(shí)验(yàn)體(tǐ)系(xì)的(de)設計(jì);环(huán)境干(gàn)擾;參比電(diàn)极(jí);地(dì)線(xiàn)。